Studio e caratterizzazione di materiali in superficie e in bulk
Laboratorio di analisi chimica e cristallochimica per lo studio dei materiali in superficie ed in bulk mediante tecniche di spettroscopia e diffratometria basate sull’interazione della materia con radiazioni ionizanti X
Apparecchiature presenti
Diffrattometro a raggi X (XRD) ad alta risoluzione con potenza di 3KW, modello DAVINCI seri-II Bruker, equpaggiato con sorgente monocromatica di Cu per la generazione dei raggi X
Spettrofotometro di Fluorescenza a raggi X (XRF) con potenza di 4KW, modello TIGER serie-II, con rivelatore a dispersione di lunghezze d’onda e sorgente raggi X a lampada di Rh
Spettrofotometro di fotoemissione di elettroni a raggi X (XPS) con potenza massima di 400W, modello Physical Electronics PHI GMBH 5800-0, equipaggiato con sorgente raggi X dual-anod Al e Al-Mg, monocromatore, analizzatore emisferico TOF, ion-gun, reattore per trattamento in-situ